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MT Blade™: 叶片检测



高精度和高质量的叶片测量和分析



Metrologic MT Blade™ 使得叶片测量工作更加简单. 此模块兼容于所有的接触式测头, 或者光学测量, 适用于任意3D设备. 此模块是和我们的叶片制造商等合作伙伴共同开发用于模拟扫描叶片截面. Metrologic MT Blade™ 用户界面非常人性化, 使用者能够快速选择并且加载扫描程序. 简单输入一组参数配置对一个新的叶片类型进行分析. MMT 或者其他测量不需要特殊编程. 叶片测量技术基于截面分析来得到快速, 高精度和灵活的结果.



产品描述

Metrologic MT Blade™ 提供定向数据例如总长, 前缘和后缘的厚度, 中线, 弦线和其他测量准备进行分析. 此外, 它整合到了Metrolog XG 环境中允许使用所有的可能用到的坐标, 优化, 构建和几何公差, 最后可以生成清晰并且专业的图形报告.



Metrologic MT Blade™ 交叠计算方法来源于制造商. 叶片制造商最初使用不同的方法来确定零件特征. 为了反映这种多样性, 迈特罗芝集团整合了Metrologic MT Blade™ 叶片模块的多种算法来支持这些不同类型的计算方法. 使用大范围的坐标方法, 例如, 除了常规的固定根部的方法以外使用3D CAD曲面进行迭代建坐标或者支持6点法建坐标, 可以进行高精度的叶片测量.

算法特点:

  • 前缘中线 (点和圆)
  • 后缘(点和圆)
  • 最大厚度
  • 最小外接直径
  • 前缘厚度
  • 后缘厚度
  • 弦线
  • 总长
  • 堆叠 (点和角度偏差)
  • 堆叠线

测量数据直接使用整合在Metrolog XG里面的报告编辑器.

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